自动抗干扰介质损耗测试仪

一、概况

本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代自动抗干扰介质损耗测试仪。

二、技术指标

  1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）

  2、相对湿度：20%～80%

  3、供电电源：电压：220V±10%

  4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm

  5、重量：16kg

  6、输出功率：1.5KVA

  7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

  8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

  9、测量范围：内接试验电压：

tgδ：99.9%

Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

10KV  Cx＜60000 pF

5KV   Cx＜80000 pF

2.5KV  Cx＜0.3uF

外接试验电压：

由外接试验变压器输出功率而定

 10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09% 

电容容量（Cx）：1.5%±1pF

 11、分辨率： tgδ：0.01%  

Cx ：0.1pF

三、结构

仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV～10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。

工作原理

仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路，如图三所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并算出被测试品电容容值（CX）和介质损耗（tgδ）。

数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳接地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、精确、可靠。

由图三可见，仪器高压器的高压侧和测量线路都是浮地的，用户可根据不同的测量对象和测量需要，灵活地采用多种接地方式。如采用“正接线法”进行测量时，可将“E”点接地；而当采用“反接法”进行测量时，可将“UH”点接地，而将E点浮空。

图中除测试品CX外，其余为本仪器。细线框内部分对仪器外壳随15KV工频高压5分钟，额定耐压10KV。仪器内附标准电容Cn，名义值为50PF，tgδ≤0.0001，耐压10KV。高压变压器，额定输出功率为1.5KVA。

★“E”点为仪器内`屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连，不是大地，与仪器外壳也不连通！！！